• Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  1. Boeken
  2. Non-fictie
  3. Wetenschap
  4. Techniek
  5. Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Patrick Echlin, C E Fiori, Joseph Goldstein, David C Joy, Dale E Newbury
Hardcover | Engels
€ 305,45
+ 610 punten
Uitvoering
Levering 1 à 4 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec- tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972. In order to provide a textbook containing the materials presented in the original course, the lecturers collaborated to write the book Practical Scanning Electron Microscopy (PSEM), which was published by Plenum Press in 1975. The course con- tinued to evolve and expand in the ensuing years, until the volume of material to be covered necessitated the development of separate intro- ductory and advanced courses. In 1981 the lecturers undertook the project of rewriting the original textbook, producing the volume Scan- ning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (SEMXM). This vol- ume contained substantial expansions of the treatment of such basic material as electron optics, image formation, energy-dispersive x-ray spectrometry, and qualitative and quantitative analysis. At the same time, a number of chapters, which had been included in the PSEM vol- ume, including those on magnetic contrast and electron channeling con- trast, had to be dropped for reasons of space. Moreover, these topics had naturally evolved into the basis of the advanced course. In addition, the evolution of the SEM and microanalysis fields had resulted in the devel- opment of new topics, such as digital image processing, which by their nature became topics in the advanced course.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
454
Taal:
Engels

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9780306421402
Verschijningsdatum:
31/03/1986
Uitvoering:
Hardcover
Bestandsformaat:
Genaaid
Afmetingen:
160 mm x 236 mm
Gewicht:
721 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 610 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
BUNDELPROMO

2+1 GRATIS op meer dan 200 producten

Profiteer nu van onze vroegboekkortingen
BUNDELPROMO
2+1 GRATIS op meer dan 200 producten
ACTIEPRIJS

€ 10 korting

op de Vivlio Light en Light HD e-reader
ACTIEPRIJS
Vivlio Light en Light HD e-reader met € 10 korting
AANGERADEN

Dé boeken bij jouw vakantiebestemming

door ons geselecteerd
AANGERADEN
Dé boeken bij jouw vakantiebestemming
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.