Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  1. Boeken
  2. Non-fictie
  3. Wetenschap
  4. Techniek
  5. Energie
  6. Addressing Process Variations at the Microarchitecture and System Level

Addressing Process Variations at the Microarchitecture and System Level

Siddharth Garg, Diana Marculescu
€ 78,45
+ 156 punten
Levertermijn 1 à 4 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

Technology scaling has resulted in an increasing magnitude of and sensitivity to manufacturing process variations. This has led to the adoption of statistical design methodologies as opposed to conventional static design techniques. At the same time, increasing design complexity has motivated a shift towards higher levels of design abstraction, i.e., micro-architecture and system level design. This book provides the reader with an introduction to recently proposed techniques that address one or more of these challenges. It surveys emerging statistical design techniques targeted towards the analysis and mitigation of process variation at the system level design abstraction, for both conventional planar and emerging 3D integrated circuits. The topics covered include variability macro-modeling for logic modules, system level variability analysis for multi-core systems, and system level variability mitigation techniques. The book uses illustrative and detailed examples to help explain the various techniques covered. It concludes with some pointers to future work that looks beyond conventional CMOS technology and highlights the relevance of system level variability analysis and mitigation techniques for emerging technologies.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
88
Taal:
Engels
Reeks:
Reeksnummer:
nr. 19

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9781601986580
Verschijningsdatum:
8/04/2013
Uitvoering:
Paperback
Formaat:
Trade paperback (VS)
Afmetingen:
156 mm x 234 mm
Gewicht:
136 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 156 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE

Tot meer dan 50% korting

op een selectie e-books
E-BOOK ACTIE
E-book kortingen
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.