Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending aan op alles gedurende de hele maand januari.
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending aan op alles gedurende de hele maand januari.
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Omschrijving
The book is concerned with the theory, background, and practical use of transmission electron microscopes with lens correctors that can correct the effects of spherical aberration. The book also covers a comparison with aberration correction in the TEM and applications of analytical aberration corrected STEM in materials science and biology. This book is essential for microscopists involved in nanoscale and materials microanalysis especially those using scanning transmission electron microscopy, and related analytical techniques such as electron diffraction x-ray spectrometry (EDXS) and electron energy loss spectroscopy (EELS).
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 304
- Taal:
- Engels
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780470518519
- Verschijningsdatum:
- 26/09/2011
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 157 mm x 231 mm
- Gewicht:
- 566 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
SOLDEN
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.