Standaard Boekhandel gebruikt cookies en gelijkaardige technologieën om de website goed te laten werken en je een betere surfervaring te bezorgen.
Hieronder kan je kiezen welke cookies je wilt inschakelen:
Technische en functionele cookies
Deze cookies zijn essentieel om de website goed te laten functioneren, en laten je toe om bijvoorbeeld in te loggen. Je kan deze cookies niet uitschakelen.
Analytische cookies
Deze cookies verzamelen anonieme informatie over het gebruik van onze website. Op die manier kunnen we de website beter afstemmen op de behoeften van de gebruikers.
Marketingcookies
Deze cookies delen je gedrag op onze website met externe partijen, zodat je op externe platformen relevantere advertenties van Standaard Boekhandel te zien krijgt.
Je kan maximaal 250 producten tegelijk aan je winkelmandje toevoegen. Verwijdere enkele producten uit je winkelmandje, of splits je bestelling op in meerdere bestellingen.
The third edition of A Primer on Partial Least Squares Structural Equation Modeling (PLS-SEM) guides readers through learning and mastering the techniques of this approach in clear language. Authors Joseph H. Hair, Jr., G. Tomas M. Hult, Christian Ringle, and Marko Sarstedt use their years of conducting and teaching research to communicate the fundamentals of PLS-SEM in straightforward language to explain the details of this method, with limited emphasis on equations and symbols. A running case study on corporate reputation follows the different steps in this technique so readers can better understand the research applications. Learning objectives, review and critical thinking questions, and key terms help readers cement their knowledge. This edition has been thoroughly updated, featuring the latest version of the popular software package SmartPLS 3. New topics have been added throughout the text, including a thoroughly revised and extended chapter on mediation, recent research on the foundations of PLS-SEM, detailed descriptions of research summarizing the advantages as well as limitations of PLS-SEM, and extended coverage of advanced concepts and methods, such as out-of-sample versus in-sample prediction metrics, higher-order constructs, multigroup analysis, necessary condition analysis, and endogeneity.