Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België vanaf € 30
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België vanaf € 30
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Winkels

Verlanglijstje

Winkels

Verlanglijstje

Zoeken

Volg ons op

Wist je dat er in Vlaanderen voor iedereen een Standaard Boekhandel is binnen een straal van 7 km?

Zoek een winkel

€ 77,45

+ 154 punten

Uitvoering

Levering 1 à 2 weken

Eenvoudig bestellen

Veilig betalen

Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)

Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

The third edition of A Primer on Partial Least Squares Structural Equation Modeling (PLS-SEM) guides readers through learning and mastering the techniques of this approach in clear language. Authors Joseph H. Hair, Jr., G. Tomas M. Hult, Christian Ringle, and Marko Sarstedt use their years of conducting and teaching research to communicate the fundamentals of PLS-SEM in straightforward language to explain the details of this method, with limited emphasis on equations and symbols. A running case study on corporate reputation follows the different steps in this technique so readers can better understand the research applications. Learning objectives, review and critical thinking questions, and key terms help readers cement their knowledge. This edition has been thoroughly updated, featuring the latest version of the popular software package SmartPLS 3. New topics have been added throughout the text, including a thoroughly revised and extended chapter on mediation, recent research on the foundations of PLS-SEM, detailed descriptions of research summarizing the advantages as well as limitations of PLS-SEM, and extended coverage of advanced concepts and methods, such as out-of-sample versus in-sample prediction metrics, higher-order constructs, multigroup analysis, necessary condition analysis, and endogeneity.