Door een staking bij bpost kan je online bestelling op dit moment iets langer onderweg zijn dan voorzien. Dringend iets nodig? Onze winkels ontvangen jou met open armen!
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Door een staking bij bpost kan je online bestelling op dit moment iets langer onderweg zijn dan voorzien. Dringend iets nodig? Onze winkels ontvangen jou met open armen!
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten

4H-Silicon Carbide MOSFET

Interface Structure, Defect States and Inversion Layer Mobility

Gang Liu
Paperback | Engels
€ 59,45
+ 118 punten
Levertermijn 1 à 4 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

Silicon carbide is the only wide band gap semiconductor that has a native oxide, and a leading candidate for development of next-generation, energy efficient, high power metal-oxide-semiconductor field effect transistors (MOSFETs). Progress in this technology has been limited by the semiconductor-dielectric interface structure and its effect on the inversion layer mobility. The major objective of this work is to study and improve 4H-SiC MOSFET interface structure, defect states and inversion layer mobility on the (11-20) crystal face of SiC (a-face), employing nitrogen and phosphorous passivation. We also use these results to explore the effect of reactive ion etching on the a-face, an important aspect of processing optimum power devices. We correlate electrical measurements, i.e. current-voltage (I-V) and capacitance-voltage (C-V) with physical characterization including X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), atomic force microscopy (AFM), transmission electron microscopy (TEM), secondary ion mass spectrometry (SIMS) and medium energy ion scattering (MEIS).

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
124
Taal:
Engels

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9783639712483
Verschijningsdatum:
17/03/2014
Uitvoering:
Paperback
Formaat:
Trade paperback (VS)
Afmetingen:
152 mm x 229 mm
Gewicht:
190 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 118 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE

Tot meer dan 50% korting

op een selectie e-books
E-BOOK ACTIE
E-book kortingen
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.