Onze Vivlio e-readers ondervinden momenteel synchronisatieproblemen. We doen er alles aan om dit zo snel mogelijk op te lossen. Onze excuses voor het ongemak!

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België vanaf € 30
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Onze Vivlio e-readers ondervinden momenteel synchronisatieproblemen. We doen er alles aan om dit zo snel mogelijk op te lossen. Onze excuses voor het ongemak!

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België vanaf € 30
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Winkels

Verlanglijstje

Winkels

Verlanglijstje

Zoeken

Volg ons op

Wist je dat er in Vlaanderen voor iedereen een Standaard Boekhandel is binnen een straal van 7 km?

Zoek een winkel

€ 222,95

+ 445 punten

Levering 1 à 2 weken

Eenvoudig bestellen

Veilig betalen

Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)

Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

Knowledge of the dynamics of many-electron systems is of fundamental importance to all disciplines of condensed matter physics. A very effective access to electron dynamics is offered by inelastic X-ray scattering (IXS) spectroscopy. The double differential scattering cross section for IXS is directly related to the time-dependent two-particle density correlation function, and, for large momentum and energy transfer (Compton limit) to the electron momentum distribution. Moreover, resonant inelastic X-ray scattering (RIXS) enables the study of electron dynamics via electronic excitations in a very selective manner (e.g. selectively spin, crystal momentum, or symmetry), so that other methods are efficaciously complemented. The progress of IXS spectroscopy is intimately related to the growing range of applications of synchrotron radiation. The aim of the book is to provide the growing community of researchers with accounts of experimental methods, instrumentation, and data analysis of IXS, with representative examples of successful applications, and with the theoretical framework for interpretations of the measurements.